otsukael大塚RETS-100光学相位差测量仪

本设备是利用瞬间多通道测光检出器和自动大型Ｘ－Ｙ平台以及偏光光学系，测定透过型液晶面板面内的cellgap和预斜角（含ＭＶＡ）的系统。

  本Software自动制御偏光Prism unit和MCPD，测量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的测量。每个Sample品种，会准备Recipe（测量条件File）所以Operator 放置Sample后，选择Recipe，即可实现高精度测量。

相位差光学材料量

产品特点：可更加精准的量测低相位差(0.1nm～)*适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。检测器采用多频谱分光光谱仪，rets设备，展现任一个波长的高精度相位差量测。

光学薄膜

相位差膜、椭圆膜、相位差板

偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、别的光学资料

■液晶层

穿透、半穿透型液晶层(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、强诱电性液晶)

反射型液晶层(TN，STN)

本装置是photonic结晶偏光子arrayh和CCD camera构成的专用偏光计测模组和透过偏光光学系相结合进行测定椭圆率，rets-100测试仪，方位角、从偏光film.位相差film贴合品的两面之测定，进而演算其吸收轴，光轴，rets，相对角、RE的装置。

  本设备是利用瞬间多通道测光光谱仪以及偏光光学系高速测量透过型封入完成后的LCD Cell（TN，rets相位差膜测试，IPS，MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自动XY-stage以及自动倾斜旋转stage的2个Sample stage。Calibration时，自动set基准sample。