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LCD评估装置（面板/模块检查） LCD系列 Otsuka

LCD面板模组的电光特性
OTSUKA大冢- 高分子相结构分析系统ELSZ-2000S

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OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100

Agilent 7100 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统阳离子和阴离子等不同的成分可以用一台装置进行分析。用微量样品可以进行短时间、高分辨率的分析。 OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100OTSUKA大冢- 毛细管电泳系统Agilent 7100
OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000

DRM-3000 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计可以根据静光散射法的重量平均分子量决定的dn / dc测量。 OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000OTSUKA大冢-高灵敏度示差折射计DRM-3000
OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL

SLS-6500HL OTSUKA大冢- 静态光散射光度计可以测量使用静光散射法的**分子量、惯性半径、**胆量系数。 OTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HLOTSUKA大冢- 静态光散射光度计SLS-6500HL
OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000AS

FPAR-1000AS OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径 FPAR和自动取景器的组合中，关于50检体的试料，可以进行粒子直径的自动测量。样品量为1ml，可以使用廉价的电筒进行测量。 OTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-1000ASOTSUKA大冢- 自动桑普勒浓厚系颗粒直径FPAR-100
OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000

FPAR-1000 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统从稀薄系到浓厚系，在广泛的浓度区域中的粒子直径测量 *适合分析胶体分散液和拉拉力的分散状态。 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000

FDLS-3000 OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计根据固体激光和高灵敏度检测器（冷却型光电子倍增管），可以测量0.5nm～5000 nm的粒子直径和粒子直径分布（粒径·粒径分布）。OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series

DLS-6500series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计可测量使用动态光散射法的粒子直径、粒子直径分布（粒径、粒径分布）。 OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-6500series
OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S

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OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA

nanoSAQLA OTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLAOTSUKA大冢- 多检体纳米粒子直径测量系统nanoSAQLA
OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000series

DLS-8000series OTSUKA大冢- 动态光散射光度计用动态光散射法的粒子直径·粒子直径分布（粒径·粒径分布）测量和使用静光散射法的优良分子量·惯性半径·**胆量系数的测量。OTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000seriesOTSUKA大冢- 动态光散射光度计DLS-8000series
OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S

ELSZ-2000S OTSUKA大冢- 电位测量系统 OTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000SOTSUKA大冢- 粒径·分子量测量系统ELSZ-2000S