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        产品中心
        产品详情
        • 产品名称:OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000

        • 产品厂商:OTSUKA大冢
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        简单介绍:
        FPAR-1000 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统 从稀薄系到浓厚系,在广泛的浓度区域中的粒子直径测量 *适合分析胶体分散液和拉拉力的分散状态。 OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
        详情介绍:

        OTSUKA大冢- 光纤光学动态光散射光度计FDLS-3000
           OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统

        从稀薄系到浓厚系,在广泛的浓度区域中的粒子直径测量
                                                    *适合分析胶体分散液和拉拉力的分散状态。
        特长:
        OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000OTSUKA大冢- 浓厚系颗粒直径系统FPAR-1000
        从稀薄的溶液到浓厚溶液,可以测量在广泛的浓度范围内的高速、高精度的粒子径、粒子直径分布(粒径、粒径分布)。

        在研究·质量管理的广泛用途上使用微粒子特有的分散、凝集过程的功能等。

        根据新开发的测量程序,对应于浓厚溶液中高精度的粒子直径测量。

        将样本温调、超声波洗净等所有必要的功能全部内置的A3尺寸的紧凑设计。


        测定项目
        粒子径
        3 nm ~ 5000nm
        1 nm ~ 5000nm (高感度仕様)
        キュムラント平均粒子径
        ヒストグラム平均粒子径(D50)(高感度仕様)
        分布解析
        CONTIN法
        MARQUARDT法
        NNLS法
        CUMULANT法

        対応浓度范囲
        (标准ラテックス
        204nm の场合)
        0.001 ~ 10 %
        浓厚系プローブ(标准)
        0.01 ~ 10 %
        希薄系プローブ(オプション)
        0.001 ~ 0.01 %
        応用分野
        • 色材工业における顔料・インクの分散・凝集制御・粒子径管理。
        • セラミックススラリーの分散・凝集制御、分散剤効果
        • 半导体分野の研磨粒子の粒子径管理
        • 高分子・化学工业におけるエマルジョン、ラテックスの分散凝集制御、粒子径管理
        • 医薬品・食品エマルジョンの分散・凝集制御、リポソームなどの粒子径管理
        • 光触媒(酸化チタン)粒子の分散状态管理

        仕 様
        光源 半导体レーザー
        検出器 光电子増倍管(フォトンカウンティング方式)
        サンプル温调范囲 10 ~ 70℃
        温调方式 电子式冷却素子、ヒーター
        プローブ洗浄方式 超音波洗浄
        电源 AC100V ± 10%50/60Hz 300VA
        寸法(WDH) 320(W)×507(D)×284(H)
        重量 约 22 kg


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