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单粒子荧光诊断系统Osuka大冢

可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
高速LED光学特性监视器LE Otsuka

它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
光谱辐照度测量系统Otsuka大冢

“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可通过专用软件进行测量和照明电源也是集体控制这个设备追求到精良的基础照度测量。
紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售

评估光源在紫外线区域的辐射。・通过光谱辐射度测量高精度测量亮度・支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围・可以进行光生物 **性评估它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
紫外光谱辐照度测量系统Otsuka

“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。产品咨询
紫外分光光度分布测量系统Otsuka

评估 UV LED 的光分布特性。・基于辐射强度/辐照度的光分布评估・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
总辐射通量测量系统Otsuka大冢

评估 UV LED 的辐射通量。・性能更高的紫外线 LED 的输出评估・温度评估与温度控制单元相结合支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢

它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性。繁琐操作要求测量精度高集成半球，样品组方便测量大功率激光光源瓦级对应测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子

一种测量照明设备配光特性的装置。・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！
彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢

彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES 彩色滤光片分光特性测量装置OTSUKA大冢LCF SERIES
小角激光散射仪PP-1000

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多检体纳米粒径量测系统NANOSAQLA

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