产品名称：OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZS

ELSZ-2000ZS  OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统

除了从传统的稀薄溶液～浓厚溶液中的电位、粒子直径测量之外，也可以测量分子量。

另外，在0～90度的广泛的温度范围内，可以进行自动温度凹陷测量的变性·相转移温度解析。

OTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZSOTSUKA大冢-电位、粒径、分子量测量系统ELSZ-2000ZS

特长：

实现*新型高灵敏度APD的灵敏度和测量时间缩短

根据自动温度检测，可以分析变性和转移温度

在0～90度的宽的温度范围内可以测量

添加广泛的分子量测量和分析功能

对应悬浮的高浓度样本的粒子直径·研讨会电位测量

通过实际测量单元内的电气渗透流，提供高精度的电位测量结果

高盐浓度溶液的电位测量

对应小面积样本的平板电脑电位测量

用途：

在界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、药学、医学领域等方面，不仅仅是微粒子，*适合处理胶卷和平板型试料的表面科学的基础研究和应用研究。

新功能材料领域

燃料电池相关（碳纳米管、泥管、功能性膜、催化剂、纳米金属）

与生物纳米相关（纳米胶囊、伊丽塔、DDS、生物纳米粒子）、纳米泡沫等

陶瓷彩色材料工业领域

陶瓷（硅、氧化钛、氧化钛等）

无机佐尔的表面改质·分散・凝集控制

颜料（碳素黑有机颜料）的分散・凝集控制

拉力状样本

彩色滤镜

浮游选矿物的捕获材料吸附的研究



半导体领域

对硅晶片表面的异物附着的机制阐明

研磨剂、添加剂和晶片表面相互作用的研究

CMPIC



高分子化学工业领域

布莱斯（涂费・粘合剂）的分散・凝集控制、拉特克斯的表面改质（医药用・工业用）

高分子电解质（聚氨酸氨酸等）的功能性的研究，功能性纳米粒子

研究纸、纸浆的制纸工程控制和纸浆添加剂的研究



医药品工业领域

美容（食品・香料・医疗・化妆品）的分散・凝集控制、蛋白质的功能性

反射镜的分散・凝集控制、界面活性剂（米袋）的功能性

原理

溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン运动をしているため、この粒子に光を照射した时に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。溶液中の粒子は、粒子径に依存したブラウン运动をしているため、この粒子に光を照射した时に得られる散乱光は、小粒子は素速い揺らぎを、大粒子はゆっくりした揺らぎを示します。
この揺らぎを光子相関法で解析することにより粒子径や粒度分布が求められます。

溶液中の粒子に电场をかけると、粒子が持つ电荷に応じた电気泳动が観测されるため、この电気泳动速度からゼータ电位・电気泳动移动度が求められます。 电気泳动光散乱法では、电気泳动している粒子に光を照射し、得られる散乱光のドップラーシフト量から电気泳动速度を求めるため、レーザードップラー法とも呼ばれています。

电気浸透流とは、ゼータ电位测定中セル内で起きる溶液の流れのことです。セル壁面が帯电していると溶液中の対イオンがセル壁面に集まります。电场がかかると対イオンは反対符号の电极侧へ、セル中央付近はその流れを补うため逆の流れが生じる现象です。 粒子の见かけの电気泳动移动度を実测し、电気浸透流を解析することで、试料の吸着や沈降などのセル汚れの影响を考虑した正しい静止面を求め、真のゼータ电位・电気泳动移动度が求められます。 （森・冈本の式参照）

森・冈本の式
电気浸透流を考虑したセル内の泳动速度解析
U_obs(z)=AU₀(z/b)²+⊿U₀(z/b)+(1-A)U₀+U_p

z:セル中心位置からの距离
Uobs(z):セル中の位置zにおける见かけの移动度
A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
k=a/b:2aと2bは电気泳动セル断面の横と縦の长さ．但し、a>b
Up:粒子の真の移动度
U0:セルの上下壁面における平均移动度
⊿U0:セルの上下壁面における移动度の差

ELSZシリーズではセル内の多点での见かけの电気泳动移动度を実测しているため、测定データ内でゼータ电位分布の再现性确认や、ノイズピーク判定も可能です。

平板セルは、箱状の石英セルの上面に、平板试料を密着させて一体化できる构造になっています。 セルの深さ方向の各レベルでモニタ－粒子の见かけの电気泳动移动度を実测し、得られた电気浸透プロファイルから固体界面における电気浸透流の速度が解析され、平板试料表面のゼータ电位が求められます。

光が透过しにくい浓厚试料や有色试料については多重散乱や吸収などの影响によりELSシリーズでは测定が困难でした。
现在、ELSZシリーズの标准セルは希薄系から浓厚系まで幅広く测定することが出来るようになりました。さらに高浓度の试料については、FST法*を采用した浓厚系セルにてゼータ电位测定が可能となりました

静的光散乱法は、简便に絶対分子量を测定する手法として知られています。
测定原理は、溶液中の分子に光を照射し、得られる散乱光の絶対値から分子量を求めています。即ち、大きな分子からは强い散乱光が、小さな分子からは弱い散乱光が得られる现象を利用しています。
実际には浓度によっても得られる散乱光强度は异なるため、数点の异なる浓度の溶液の散乱强度を実测し、次式に基づいて横轴に浓度を、縦轴に散乱强度の逆数に相当するKc／R（θ）をプロットします。これをDebyeプロットと呼びます。
浓度ゼロへ外挿した切片（c=0）の逆数から分子量Mwを、初期勾配より**ビリアル系数A2が求められます。

分子量が大きな分子は、散乱强度に角度依存性が现れるため、异なる散乱角度（θ）での散乱强度を测定することで分子量の测定精度向上と、分子の広がりの指标となる惯性半径の情报が得られます。
角度固定で测定する际は、推定される惯性半径を入力することで角度依存测定に相当する补正をおこない、分子量の测定精度を向上させることができます。

溶媒中での分子间の斥力と引力の度合いを示し、溶媒の分子に対する亲和性や结晶化の目安となります。

• A₂が正の场合、亲和性が高い良溶媒で、分子间の斥力が强いため、安定に存在しやすくなります。
• A₂が负の场合、亲和性は低い贫溶媒で、分子间の引力が强いため、凝集が起こりやすくなります。
• A₂＝0の场合の溶媒をシータ溶媒、また温度をシータ温度と呼び、斥力と引力が钓り合った状态で、结晶化が起こりやすくなります。

仕様

仕　様

●测定范囲

*1（Latex112nm： 0.00001 ～ 10%、タウロコール酸： ～ 40%）

市贩品の角セルでの粒子径・分子量测定に対応したセルユニット。
ガラス・ディスポ・微量セルが使用可能。

ガラスセル（分子量・粒径用セル）

【 粒子径/分子量セルユニットを用いた测定例はこちら 】

希薄试料及び高塩浓度试料に対応したセルユニット。
pHタイトレータや极性溶媒への対応可能。
セル断面积を小さくし、电极面积を大きくすることで、生理食塩水はもちろんのこと、1000mM NaCl水溶液中の粒子のゼータ电位测定が可能。

【 ゼータ电位用标准セルユニットを用いた测定例はこちら 】

ゼータ电位用微量ディスポセルを标准で选択可能。
・业界初!!电気浸透流を実测できるゼータ电位用微量ディスポセル。
・微量（130μL〜）で测定可能。
・塩浓度100mMまでのゼータ电位测定が可能。

【 ゼータ电位用微量ディスポセルユニットを用いた测定例はこちら 】

特许技术 FST法^※により标准セルでは测定困难な浓厚悬浊试料に対応。
有机溶媒対応のディスポセルを采用。

【 ゼータ电位用浓厚系セルユニットを用いた测定例はこちら 】

平板状やフィルム状试料の固体表面ゼータ电位を测定するためのセルユニット。
平板セルの片面に固定された固体试料と溶液との界面では、固体试料の表面电荷に依存した电気二重层が形成され、电気泳动の际に电気浸透流が生じます。
セル内の异なる点で见かけの电気移动度を测定し、｢森・冈本の式｣を用いて电気浸透流を解析することにより、固体试料表面のゼータ电位が求められます。

【 平板用セルユニットを用いた测定例はこちら 】

繊维状サンプルの测定を容易に行えるキットです。

非极性溶媒试料でのゼータ电位测定に対応したセルユニット。
低诱电率10以下の溶剤も対応可能。

【 低诱电率溶媒用セルユニットを用いた测定例はこちら 】

│ ゼータ电位 │ 粒子径 │ ゼータ电位/粒子径 │ 分子量 │

*小容量20μLから测定可能な微量セル。
高温测定时のサンプル蒸発を防ぐための盖も别途あります。

pHタイトレータと接続して测定可能な粒子径用フローセル。

【 粒子径フローセルを用いた测定例はこちら 】

│ ゼータ电位 │ 粒子径 │ ゼータ电位/粒子径 │ 分子量 │

pHや添加剤浓度に対する粒子径・ゼータ电位変化を自动测定することが可能。
平板セルとの接続も可能。
等电点评価は自动测定により作业时间短缩が可能。

【 pHタイトレータ（ELSZ-PT)を用いた测定例はこちら 】

│ ゼータ电位 │ 粒子径 │ ゼータ电位/粒子径 │ 分子量 │

分子量解析时の必须パラメータであるdn/dcを実测