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        产品中心
        产品详情
        • 产品名称:OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000

        • 产品厂商:OTSUKA大冢
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        简单介绍:
        GP-2000 OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统 紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。 使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量
        详情介绍:
        GP-2000
           OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统

        紫外LED的配光特性.。
        ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。
        ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。
        使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。


        特长:
        通过分光配光对紫外光进行高精度测定。
        评估光束分布到紫外光的*大光度、光束打开和光束通量。
        覆盖从紫外到可见的波长范围。
        支持从LED芯片到模块、应用等多种样本。
        软件集中控制电源和测量仪表


        测试项目:
        配光-紫外辐射强度或辐射强度下的角度分布。
        *大光度,光束打开,光束通量。
        辐照度、辐射强度和辐射强度。
        全光束。
        分钟光亮数据。
        以光分布测量系统为准的测量项目。
        全光束,色度坐标xy,uv,u‘v。
        相关色温、Duv、主波长、刺激纯度。
        演色性评价Ra,R1~R15。
        峰值波长、半宽度


        OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000


        仕様

        紫外分光配光测定システムの仕様

        *1 : 测定时にサンプルを设置する向き。 
        ベースダウン:水平面上への设置 
        ベースサイド:铅直面上への设置 
        *2 : 配光测定における测定波长范囲は250~850nm 
        *3 : オプション品につきましては 全光束测定システム の仕様ページをご参照ください


        装置构成

        GP-510U

        GP-510U

        卓上タイプ装置。水平面に対してLEDチップを配置して测定します。
        受光部侧1轴、サンプル侧1轴の駆动系です。
        平面にサンプルが设置できるため测定再现性や位置调整が简単です。
        LEDチップなどサンプルが小さく取り付けが难しいものの测定に向いています。

        GP-500 / GP-1100

        GP-500 / GP-1100

        卓上タイプ装置。一般的な配光装置の光学系です。
        受光部とサンプル部の高さが同じでサンプル侧が2轴の駆动系をもちます。
        チップタイプから小型のモジュールサンプルまで広く取り扱えます。

        GP-2000

        GP-2000

        大型装置。设置には暗室を一部屋使うほどの场所が必要です。
        投光器などの大型で重量のある光源を测定する场合の装置です。


        测定例

        UV-LED 测定结果

        紫外分光配光测定システムの测定例

        紫外分光配光测定システムの测定例

        UV-LED是分光配光测定的结果.。
        配光曲线以放射强度为基准进行描绘。
        从通过配光测定得到的各θ的分光放射强度中,将球带系数法。
        通过使用,能够取得从UV-LED被放射的分光全放射束.



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