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        产品中心
        产品详情
        • 产品名称:OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统

        • 产品厂商:OTSUKA大冢
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        简单介绍:
        OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统 荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。 1从粒子的取出到测量的系统化。 可以测量10μm的粒子。 支持恒温到600°C的温度依赖性测量 OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
        详情介绍:
        OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统
        基于与NIMS共同开发的单粒子诊断法*的测定是可能的。
        国立研究开发法人物质·材料研究机构。

        与广崎尚登法罗、武田隆史研究员的共同研究

        荧光体1粒子的荧光特性可以测定的高灵敏度系统。
        1从粒子的取出到测量的系统化。
        可以测量10μm的粒子。
        支持恒温到600°C的温度依赖性测量

        OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统OTSUKA大冢-单粒子荧光诊断系统

        测量项目
        量子效率(量子收获率)。
        发光光谱。
        激发光谱。
        温度特性


        単粒子诊断法による测定の流れ
        蛍光体を合成後、励起光照射 1粒子采取 蛍光体の特性を测定

        励起・発光スペクトル测定顕微ユニット

        励起・発光スペクトル测定顕微ユニット

        量子効率(量子収率)测定ユニット

        量子効率(量子収率)测定ユニット




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