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OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计
是从低亮度到高亮度，可以进行高速·高精度的测量的分光放射辉度计。
使用电子冷却线性阵列传感器，通过大冢电子独有的分光光学设计和信号处理电路，在大亮度范围和波长范围内进行低噪声、高精度测量实现
OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000OTSUKA大冢-高灵敏度分光放射光度计HS-1000
采用高亮度、色度精度的分光方式(光栅)。
测量范围从0.005cd/m2的超低亮度到400，000cd/m2的亮度。
适用于CIE建议的宽波长范围(355 nm到835 nm)。
通过****的光学系统减少偏振误差(<；1%)，将偏振特性(如LCD)。
即使是持有的试料也可以高精度地测量。
包括通信时间在内，可以进行*短1秒的高速测定。
(在连续测量的情况下，*短约20msec/次，可以进行更快的测量。)。
与不改变测定角的宽广亮度范围相对应。
(测量角2゚时，0.005cd/m2~4，000cd/m2)。
能够高精度地对频率点亮光源进行稳定测定。
(通过点亮频率输入，自动将曝光时间设定为亮灯周期的整数倍)。
对应响应测定的产品也在系列中。※。
也可以与颜色看到的模型“CIECAM02规格”相对应的输出。※。
与“CIE200:2011标准”兼容的“CIE200:2011标准”
可以。※
测量项目
-辐照度(W/sr/m2)-色域(NTSC比)*1。
-亮度(cd/m2)-响应时间*2。
-色度坐标xy[符合CIE1931]-亮度(J)*3。
-色度坐标U‘V’[符合CIE1976标准]-亮度(Q)*3。
-色度坐标U‘V’[CIE1976兼容]-饱和度(s)*3。
-相关色温-色度(C)*3。
-CIE表色系2゚/10゚-彩色(M)*3。
-刺激值XYZ-等效亮度*4。
-偏差。
-分光数据的四则运算。
-分光数据的函数处理。
*1可选*2使用HS-1000RT*3符合CIECAM02标准。
*4 CIE200:符合2011标准
用途
LCD、PDP、有机EL和大型LED显示屏。
分光数据、亮度、色度、相关色温测定。
灯等照明光源的分光数据、亮度、色度、相关色温测定。
作为各种亮度·色度测定器的基准器。
通过非接触测量物体的色彩
| 型式 | HS-1000 |
| 测色方式 | 分光方式 |
| 测定波长范囲 | 355nm ～ 835nm |
| 测定角 | 0.1゜，0.2゜，1゜，2゜ |
| 测定距离 *1 | 240mm ～ ∞ |
| *小测定スポット径 |
测定角 2゜：约 10.0mm以下 测定角 1゜：约 5.0mm以下 测定角 0.2゜：约 1.0mm以下 测定角 0.1゜：约 0.5mm以下 |
| 辉度确度 | ±2% |
| 色度确度 | ±0.002以下 |
| 本体・重量 | 187(W) × 249(H) ×400（D) mm 以下, 约 7.5 kg 以下 |
*1 対物レンズユニットの先端からの距离
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ユーザーインターフェースソフトウェアは、1ボタン测定の简単モードと、
任意に测定条件を変更可能なエキスパートモード - のどちらかに切り替えて使用可能。
- 取得したデータの演算値を一覧表で确认可能
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取得したスペクトル同士の四则演算、スペクトルと定数の四则演算、
取得したスペクトルの関数処理も标准ソフトウェアで対応可能
1ボタンで减光机能も含めた自动露光调整、ダーク测定、测定、演算、演算结果表示と全てが
実行可能
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色域自动测定机能
- 信号発生器（オプション）との连动によりディスプレイの色再现范囲（NTSC比）を
自动的に测定 -
応答速度测定机能付きモデル（HS-1000RT）
- HS-1000の机能に加えてディスプレイの応答速度测定が可能
- 応答速度测定结果からの动画応答シミュレーションが可能
