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产品名称：膜厚监测仪 FE-300 Otsuka大冢苏州售
产品厂商：OTSUKA大冢
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简单介绍：

它是一种紧凑、低成本的薄膜厚度计，它通过简单的操作实现了高精度光学干涉测量的薄膜厚度测量。我们采用一体式外壳，将必要的设备安装在主体中，实现了稳定的数据采集。通过以低廉的价格获得**反射率，可以分析光学常数。

详情介绍：

支持从薄膜到厚膜的各种薄膜厚度
使用反射光谱分析薄膜厚度
实现非接触、非破坏的高精度测量，同时体积小、价格低
简单的条件设置和测量操作！任何人都可以轻松测量薄膜厚度
通过峰谷法、频率分析法、非线性*小二乘法、优化法等，可以进行多种膜厚测量。
非线性*小二乘法薄膜厚度分析算法可以进行光学常数分析（n：折射率，k：消光计数）。

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