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        产品中心
        产品详情
        • 产品名称:参考测量装置 RETS-100nx Otsuka

        • 产品厂商:OTSUKA大冢
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        简单介绍:
        它是一种延迟测量设备,支持所有类型的薄膜,例如用于 OLED 的偏光板、层压延迟膜和带有 IPS 液晶延迟膜的偏光板。 实现与超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度测量。 可以“无损、无剥离”地测量薄膜的层压状态。 此外,它还配备了简单的软件和校正功能,支持因样品重新定位而导致的错位,可轻松实现高精度测量。
        详情介绍:
        仅使用独特的分光镜才能进行的高精度测量
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