产品名称：代理Otsuka大塚小角激光散射仪PP-1000

• 聚合物混合物的相分离过程
• 聚合物结晶过程
• 晶体尺寸计算、晶体生长速度计算
• 取向状态
• 聚合过程
• 热固化过程
• 温度变化时的结构变化
• 拉伸引起的结构变化^※
• 紫外线固化过程^※

※另行咨询

• 球晶直径 1.3~270μm

• 相关长度 0.1 至 100μm

• 原则

  光学系统概略图

  

  Hv 散射

  使用交叉尼科尔（偏振器和分析仪正交）进行测量。
  如果散射体具有光学各向异性（双折射），则会出现散射模式，以评估聚合物
  高阶结构的大小、顺序和方向。
  
  （测量示例）结晶膜的球形直径分析

  

  当晶体聚合物产生球形结构时，可以获得三叶草型Hv散射图像。
  散射角度以方位角45°*大，若在横轴上描绘散射矢量（q），在纵轴上描绘散射强度（Is），则散射强度*大测定角度θ_max获得具有 的散射轮廓。
  该θ_max可以使用 以下公式确定球体半径：
  

  

  ~各散射图案的介绍~
  

  Vv 散射

  使用平行尼科尔（偏振器和分析仪平行）进行测量。
  聚合物混合物相分离过程的评价
  、海岛结构的大小（相关长度）
  和颗粒直径的评价^※ •
  
  需要
  
  海岛结构岛屿部分的体积分数（测量示例）分析相分离结构的相关长度

  

  与海岛结构一样，当具有不规则结构时，可以获得圆形 Vv 散射图像。
  样本的相关长度为 ξ 是 Debye-Bueche 点（水平轴上的 q ²，垂直轴上^-1/2绘制的图形），您可以求和。
  分析基于以下理论公式，如果指定范围内线性近似直线的斜率为 a，截距为 b，则相关长度可以从以下方程确定：
  

  

  ~各散射图案的介绍~
  

  测量原理	小角度光散射法
  光源	半导体激光器（波长785nm）
  探测器	CMOS 摄像机
  测量范围（理论值）	球形直径 1.3 至 270μm 相关长度 0.1 至 100μm
  动态范围	120db 以上（使用 HDR 功能）
  测量散射角度	0.33°~45°（取决于摄像机长度）
  	相机长度 50mm 150mm 300mm 角度范围 2°~45° 0.67°~18.4° 0.33°~9.5° 角度分辨率 0.3° 0.1° 0.05°
  获取图像	Hv光散射图像、Vv光散射图像
  测量点	约 1 毫米
  光束塞	φ3mm
  测量时间	10msec～ ※
  电源	AC100-240V　75VA
  尺寸	W350×D500×H760（mm）
  数据处理部	笔记本电脑 （Windows10）

  ※使用HDR功能时为100msec~

  ■ HDR
  「High Dynamic Range Imaging」的略。
  合成具有不同曝光级别的多张照片的技术

  

  选项

  ● 冷却加热台
  ● 拉伸台