Otsuka大塚|塔玛萨崎电子（苏州）有限公司线上365bet注册_36524总部电话

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塔玛萨崎电子代理Otsuka大塚多通道光谱仪 MCPD-9800

多功能多通道光谱探测器，支持从紫外到近红外区域。光谱测量可在 5 毫秒内进行。标准仪器的光纤支持各种测量系统，无需识别样品类型。除了显微分光、光源发射、透射和反射测量外，它还与软件相结合，支持物体颜色评估和薄膜厚度测量。
江苏代理Otsuka大塚电子多通道光谱仪RETS-100nx

它是一种延迟测量设备，适用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、层压缓速膜和带 IPS 液晶缓速膜的偏振板。实现超高Re.60000nm的高速、高精度测量。薄膜的层压状态可以通过“无剥离、无损”进行测量。此外，它还配备了简单的软件和校正功能，通过重新放置样品来纠正偏差，从而轻松实现高精度测量。
代理Otsuka大塚静态光散射光度计 SLS-6500HL

特点使用静态光散射法测量优良分子量、惯性半径和第二维系数是可能的。可以对 Zimm 绘图、伯利图、Zimm 平方根图、单浓度图和 Debye 图进行各种分析。系统将询问您如何安排您的会议。可选的杆单元支架可实现光纤材料（散装）的优良散射强度测量。
代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-6500series

使用动态光散射方法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布）是可能的。您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
苏州代理Otsuka大塚动态光散射光度计 DLS-8000series

特点使用动态光散射法测量颗粒大小和颗粒大小分布（颗粒大小和颗粒大小分布），并使用静态光散射方法测量优良分子量、惯性半径和第二维真实系数。您可以选择 He-Ne 激光、固态激光和双激光规格。采用浸入式细胞光学系统，可以高精度地测量微弱散射的纳米级粒子。相关计高达 4096ch，可实现多模式分析，如聚合物浓缩溶液。与可选的凝胶旋转单元结合使用时，可以分析凝胶状态。
代理Otsuka大塚小角激光散射仪PP-1000

散射角度为0.33~45°的测量*短为10msec※可以测量评估亚微米至数百微米的结构使用专用电池测量溶液样品在软式 Hv 散射和 Vv 散射测量中轻松切换桌面类型，可安装在实验室中 ※不使用HDR功能时
苏州代理Otsuka大塚纳米SAQLA

一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。支持从稀释到厚系统标准测量时间 1 分钟的高速测量自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量简单易懂的测量功能（只需单击一下即可开始测量），无需复杂的操作内置非浸没式细胞块，无分包的无孔，每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。配备温度梯度功能，可轻松设置温度
Otsuka大塚多样品纳米颗粒直径测量系SAQLA

■纳米SAQLA的特点一台仪器可轻松连续测量 5 个样本，无需自动采样器即可实现多个样本的连续测量，也可以通过改变每个样本的条件进行测量。支持从稀释到厚系统标准测量时间 1 分钟的高速测量自动调整从厚系统到稀薄样品的*佳测量位置，实现约 1 分钟的高速测量简单易懂的测量功能（只需单击一下即可开始测量），无需复杂的操作内置非浸没式细胞块，无分包的无孔，每个细胞都是独立的，因此无需担心不成问题。配备温度梯度功能，可轻松设置温度
代理Otsuka大塚颗粒尺寸分子量测量 ELSZ-2000S

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量增加了广泛的分子量测量和分析功能支持悬浮高浓度样品的颗粒尺寸测量
苏州代理Otsuka大塚泽塔电位测量系统 ELSZ-2000Z

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量支持悬浮高浓度样品的Zeta电位测量通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量支持小面积样品的平板Zeta电位测量
苏州塔玛萨崎代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZ-2000ZS

特点 *新的高灵敏度 APD 可提高灵敏度并缩短测量时间通过自动温度梯度测量进行变性/相变温度分析可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量增加了广泛的分子量测量和分析功能支持悬浮高浓度样品的颗粒直径和Zeta电位测量通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流支持高盐浓度溶液的Zeta电位测量支持小面积样品的平板Zeta电位测量
代理Otsuka大塚泽塔电位ELSZneo

从稀释到浓缩的溶液（~40%）*1可在广泛的浓度范围内测量颗粒大小和 Zeta 电位多角度测量可实现高分离粒径分布的测量可在高盐浓度下测量平板样品的Zeta电位使用静态光散射法测量颗粒浓度动态光散射法可实现微流变测量通过多点测量凝胶样品，可以评估凝胶的网状结构和异质性标准流单元可连续测量颗粒大小和 Zeta 电位可在 0 至 90°C 的宽温度范围内进行测量温度梯度功能允许蛋白质的变性和相变温度分析通过测量和绘图分析，提供高精度的 Zeta 电位测量结果，用于测量单元中的电渗透流可安装荧光切割过滤器（可选）
塔玛萨崎Otsuka大塚分析仪器

使用单个设备分析不同的成分，如阳离子和阴离子。微量样品可实现短时间、高分辨率的分析。
塔玛萨崎Otsuka大塚光谱辐射计

评估光源在紫外区域的辐射强度。 • 通过光谱辐射测量高精度测量亮度，支持紫外、可见、红外和广泛的测量波长范围，可实现光生物学**评估这是一个有限的设备，可以测量紫外线的亮度。
塔玛萨崎光谱仪

评估紫外 LED 的辐射束。 • 高性能紫外 LED 的输出评估与温度控制单元结合使用时，温度评估支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计这些特性是**、净化和树脂固化。
塔玛萨崎Otsuka大塚测量仪器

基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法进行测量。* • 与国家材料科学研究所研究员高崎正彦和武田高富史合作