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参考测量装置 RETS-100nx Otsuka

它是一种延迟测量设备，支持所有类型的薄膜，例如用于 OLED 的偏光板、层压延迟膜和带有 IPS 液晶延迟膜的偏光板。实现与超高Re.60000 nm兼容的高速、高精度测量。可以“无损、无剥离”地测量薄膜的层压状态。此外，它还配备了简单的软件和校正功能，支持因样品重新定位而导致的错位，可轻松实现高精度测量。
膜厚测量系统 FE-3700 / 5700 Otsuka大冢

评估和分析不断发展的 FPD 制造过程中的各种薄膜
LCD评估装置（面板/模块检查） LCD系列 Otsuka

LCD面板模组的电光特性
单元间隙检测装置RETS系列Otsuka

支持从反射/透射型 LCD 填充单元到带滤色器的空单元的各种单元
彩色滤光片光谱特性测量仪LCF系列Otsuka

非常适合FPD生产过程中的所有检测，如滤色片光学特性检测和玻璃基板膜厚检测。
NIR 量子效率测量系统 QE-5000 Otsuka大冢

可检测单线态氧（活性氧）
单粒子荧光诊断系统Osuka大冢

可以基于与 NIMS 共同开发的单粒子诊断方法* 进行测量。 * 与国立材料科学研究所、弘前直人研究员和武田隆研究员联合研究
量子效率测量系统 QE-2000 / 2100 Otsuka大冢

可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）。与粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品兼容。低杂散光多通道光谱检测器大大减少了紫外区的杂散光。此外，通过采用积分半球单元，可以实现明亮的光学系统，并通过利用这一点重新激发荧光校正，可以进行高精度的测量。此外，QE-2100 能够测量量子效率的温度依赖性，并支持从紫外到近红外的宽波长范围。
高速LED光学特性监视器LE Otsuka

它是一种可以与生产线的控制信号同步，高速在线评估 LED 光学特性的设备。 LE-5400 提供质量控制所需的光学特性信息，例如 NG 判断和分类。
光谱辐照度测量系统Otsuka大冢

“光谱辐照度测量系统 IL100”评估光源的照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光和红外线的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可通过专用软件进行测量和照明电源也是集体控制这个设备追求到精良的基础照度测量。
紫外光谱仪Otsuka大冢苏州售

评估光源在紫外线区域的辐射。・通过光谱辐射度测量高精度测量亮度・支持紫外线、可见光和红外线的宽测量波长范围・可以进行光生物 **性评估它是一种可以测量紫外线亮度的有限设备。
紫外光谱辐照度测量系统Otsuka

“紫外分光辐照度测量系统IL100”评估光源在紫外区的辐照度。・从光谱辐照度测量中高精度测量照度・从紫外线到可见光的宽测量波长范围・可选择的照度头适用于高斜入射特性等应用・可以进行生物系统评估必不可少的PFD测量它是一种即使在紫外线区域也能实现高精度测量的设备。产品咨询
紫外分光光度分布测量系统Otsuka

评估 UV LED 的光分布特性。・基于辐射强度/辐照度的光分布评估・通过光谱光分布评估每个波长的辐射强度可视化用于**和树脂固化的光源的不均匀照射。
总辐射通量测量系统Otsuka大冢

评估 UV LED 的辐射通量。・性能更高的紫外线 LED 的输出评估・温度评估与温度控制单元相结合支持紫外线 LED 的光学特性评估，预计将被**、净化和树脂固化。
总光通量测量系统 HM / FM Otsuka大冢

它测量从 LED 到照明的各种光源的总光通量。・积分球+分光镜支持从总光通量到颜色测量的广泛范围。・可以通过控制光源的加热/冷却来评估温度特性。繁琐操作要求测量精度高集成半球，样品组方便测量大功率激光光源瓦级对应测量系统对应任何场景总光通量测量多年经验，满足需求支持。
光谱配光测量系统GPOtsuka大冢电子

一种测量照明设备配光特性的装置。・使用内部开发的分光镜实现高精度测量！ -颜色可以与光分布数据一起测量！- 即使在光谱测量中也可实现相当于照度计类型的高速测量！・可根据配光测量结果进行照度分析！!! -符合标准测量系统！