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OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800

MCPD-9800 OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器能够使LED的光学特性评价与生产线的控制信号同步，在线内高速进行的装置。 LE-5400提供NG判定和等级分类等质量管理所必需的光学特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800OTSUKA大冢-高速LED光学特性监视器MCPD-9800
OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800

MCPD-6800 OTSUKA大冢-多通道分光器对应从紫外到近红外领域的多功能多通道分光检测器。*短5ms能够进行分光光谱测定。标准设备光纤可支持多种测量系统，而不必确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射·反射测量为首，通过与软件相结合，也能够应对物体颜色评价、膜厚测量等。OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-6800OTSUKA大冢
OTSUKA大冢-多通道分光器MCPD-9800

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OTSUKA大冢-照度测量系统IL100

IL100 OTSUKA大冢-照度测量系统从分光放射照度测定中高精度地测定照度。 ·从紫外到可见、红外的广泛测量波长范围。 ·可以选择高斜入射特性等用途的照度头。 ·光合作用研究不可缺少的PFD、PPFD也可以测定。 ·专用软件点亮电源也统一控制。 OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢-照度测量系统IL100OTSUKA大冢是对基本的照度测定进行极限探究的装置
OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 1000UV

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OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 600UV

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OTSUKA大冢-紫外高速近场配光测量系统GP-7 series 300UV

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OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U

GP-510U OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统紫外LED的配光特性.。 ·根据放射强度/放射光照度的配光评价。 ·通过分光配光评价每个波长的放射强度。使**和树脂硬化光源的照射不均可视化。OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510UOTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-510U
OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-1100

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OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-500

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OTSUKA大冢-紫外分光配光测量系统GP-2000

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OTSUKA大冢-UV测定装置FM-9015UV

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OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000

GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统是光源单体和光学材料的配光的装置.。 OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series1000
OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series600

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OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7 series 300

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OTSUKA大冢-高速近场配光测量系统GP-7series

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